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YD2511直流低電阻測(cè)量?jī)x 單片機(jī)處理數(shù)據(jù) 高速AD轉(zhuǎn)換，測(cè)試速度快 上下限撥盤(pán)設(shè)置，簡(jiǎn)單快速 分選指示，自動(dòng)清零

更新日期：2020-03-31

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LK2515-X多路電阻測(cè)試儀 開(kāi)創(chuàng)同步多通道測(cè)試的先河!模擬測(cè)試掃描單元采用同步插卡式的設(shè)計(jì)理念，可支持的插卡板測(cè)試單元可達(dá)6個(gè)，且在插卡板之間實(shí)現(xiàn)同步測(cè)量，大大提高掃描測(cè)量速度。每塊測(cè)量板內(nèi)包含16個(gè)測(cè)試端，測(cè)試端的組合支持用戶(hù)可自由編程，高可配置高達(dá)90路電阻/溫度掃描測(cè)量通道，每通道測(cè)量可單獨(dú)設(shè)計(jì)分選比較邊界以及輸出比較分選信號(hào)。

更新日期：2020-03-31

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LK2513B智能型直流低電阻測(cè)試儀 當(dāng)前主流的32bits CPU和高密度SMD貼裝工藝，觸摸功能的24位色4.3英寸彩色液晶屏，界面清爽、操作便捷；0.05%的高電阻測(cè)量精度及1uΩ小電阻分辨率在國(guó)內(nèi)，其適用于繼電器接觸電阻、接插件接插電阻、導(dǎo)線(xiàn)電阻、印制板線(xiàn)路及焊孔電阻等；溫度補(bǔ)償和溫度轉(zhuǎn)換功能免除環(huán)境溫度對(duì)測(cè)試工作的影響；失調(diào)電壓補(bǔ)償功能能夠有效消除被測(cè)件自身的電動(dòng)勢(shì)以及接觸電勢(shì)差

更新日期：2020-03-31

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LK2513A智能型直流低電阻測(cè)試儀 當(dāng)前主流的32bits CPU和高密度SMD貼裝工藝，觸摸功能的24位色4.3英寸彩色液晶屏，界面清爽、操作便捷；0.05%的高電阻測(cè)量精度及1uΩ小電阻分辨率在國(guó)內(nèi)，其適用于繼電器接觸電阻、接插件接插電阻、導(dǎo)線(xiàn)電阻、印制板線(xiàn)路及焊孔電阻等；溫度補(bǔ)償和溫度轉(zhuǎn)換功能免除環(huán)境溫度對(duì)測(cè)試工作的影響；失調(diào)電壓補(bǔ)償功能能夠有效消除被測(cè)件自身的電動(dòng)勢(shì)以及接觸電勢(shì)差

更新日期：2020-03-31

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LK2513智能型直流低電阻測(cè)試儀 用當(dāng)前主流的32bits CPU和高密度SMD貼裝工藝，帶觸摸功能的24位色4.3英寸彩色液晶屏，界面清爽、操作便捷;0.05%的高電阻測(cè)量精度及1uΩ小電阻分辨率在國(guó)內(nèi)，其適用于繼電器接觸電阻、接插件接插電阻、導(dǎo)線(xiàn)電阻、印制板線(xiàn)路及焊孔電阻等;溫度補(bǔ)償和溫度轉(zhuǎn)換功能免除環(huán)境溫度對(duì)測(cè)試工作的影響;失調(diào)電壓補(bǔ)償功能能夠有效消除被測(cè)件自身的電動(dòng)勢(shì)以及接觸電勢(shì)

更新日期：2020-03-31

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HPS2526精密方塊電阻測(cè)試儀可方便地測(cè)量塑料薄膜、金屬鍍層方塊電阻（每平方厘米電阻量值）的儀器。均勻金屬薄層的厚度可用單位面積所體現(xiàn)的電阻表征，由于方阻與鍍層厚度成反比，也就可以由方阻計(jì)算出鍍層厚度。 儀器配有結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)的四探針探頭和面測(cè)夾具，使得測(cè)試時(shí)壓力恒定，接觸可靠，可更詳細(xì)地分析薄膜金屬化的質(zhì)量。

更新日期：2020-03-30

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